距離測定装置

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：伊藤武久 (外1名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-524699
公開番号（公開出願番号）：特表平8-510324
出願日： 1994年05月04日
公開日（公表日）： 1996年10月29日
要約：

【要約】半導体レーザー(10)によって生じる可視測定光束(11)と、測定光束(11)を光軸(13)の方向へ視準するためのコリメーター対物レンズ(12)と、測定光線を変調するための回路装置と、遠方にある対象物(16)で反射した測定光束(11)を受光装置に受光させて結像させるための受光対物レンズ(15)と、半導体レーザー(10)と前記受光装置との間に内部参照経路を生じさせるための切換え可能な光線転向装置(28)と、対象物(16)にたいして測定された距離を検出し表示するための電子評価回路(25)とを備えた距離測定装置。本発明によれば、前記受光装置は、光電子変換器(24)を接続した光導体(17’)を有している。光導体入射面(17)は、遠方の対象物のための受光対物レンズ(15)の結像面内に配置され、且つこの位置(18)から受光対物レンズ(15)の光軸(14)にたいして横方向に移動可能(18’)であるように制御可能である。他の構成では、光導体入射面(17)配置固定であり、受光対物レンズ(15)の光軸(14)の外側に、対象物までの距離が短い場合に測定光束(11)の結像位置を受光対物レンズ(15)の光軸(14)のほうへ転向させる光学的手段(36)が設けられている。測定光線は、2ナノセカンド以下のパルス幅の励起パルスによりパルス変調されている。

請求項（抜粋）：

半導体レーザー(10)によって生じる可視測定光束(11)と、測定光束(11)を光軸(13)の方向へ視準するためのコリメーター対物レンズ(12)と、測定光線を変調するための回路装置と、遠方にある対象物(16)で反射した測定光束(11)を受光装置に受光させて結像させるための受光対物レンズ(15)と、半導体レーザー(10)と前記受光装置との間に内部参照経路を生じさせるための切換え可能な光線転向装置(28)と、対象物(16)にたいして測定された距離を検出し表示するための電子評価回路(25)と、を備えた距離測定装置において、前記受光装置が、光電子変換器(24)を接続した光導体(17’)を有し、光導体入射面(17)が、遠方の対象物のための受光対物レンズ(15)の結像面内に配置され、且つこの位置(18)から受光対物レンズ(15)の光軸(14)にたいして横方向に移動可能であるように制御可能であることを特徴とする距離測定装置。

引用特許：

審査官引用 (5件)

特開平3-264886
特開平2-184788
特開昭58-131578

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