特許
J-GLOBAL ID:200903062529781041

距離測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 久保 幸雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-227161
公開番号(公開出願番号):特開2001-050723
出願日: 1999年08月11日
公開日(公表日): 2001年02月23日
要約:
【要約】【課題】無駄な測距を無くして測定時間の短縮及び測定データ量の低減を図る。【解決手段】参照光を投光し、被測定物での反射光を受光することにより被測定物までの距離を測定する距離測定装置において、測定方向を走査しつつ測定を繰り返す走査手段と、走査が可能な範囲である測定領域内の各部分毎に測定密度を変更するように測定周期又は前記走査手段を制御する制御手段とを設ける。
請求項(抜粋):
参照光を投光し、被測定物での反射光を受光することにより被測定物までの距離を測定する距離測定装置であって、測定方向を走査しつつ測定を繰り返す走査手段と、走査が可能な範囲である測定領域内の各部分毎に測定密度を変更するように、測定周期又は前記走査手段を制御する制御手段と、を有することを特徴とする距離測定装置。
IPC (3件):
G01B 11/24 ,  G01B 11/00 ,  G01S 17/08
FI (3件):
G01B 11/24 A ,  G01B 11/00 B ,  G01S 17/08
Fターム (49件):
2F065AA04 ,  2F065AA06 ,  2F065BB05 ,  2F065DD06 ,  2F065FF12 ,  2F065FF32 ,  2F065GG06 ,  2F065GG12 ,  2F065HH03 ,  2F065HH13 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ18 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL05 ,  2F065LL06 ,  2F065LL12 ,  2F065LL26 ,  2F065LL31 ,  2F065LL62 ,  2F065MM16 ,  2F065QQ01 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ21 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ32 ,  2F065SS02 ,  2F065SS13 ,  5J084AA05 ,  5J084AD01 ,  5J084BA04 ,  5J084BA11 ,  5J084BA36 ,  5J084BA47 ,  5J084BA50 ,  5J084BA51 ,  5J084BB03 ,  5J084BB11 ,  5J084BB20 ,  5J084BB24 ,  5J084BB28 ,  5J084CA03 ,  5J084CA12 ,  5J084CA31 ,  5J084CA34 ,  5J084CA49 ,  5J084CA65 ,  5J084DA01 ,  5J084DA02 ,  5J084EA05

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