特許
J-GLOBAL ID：200903062576555041

蛍光分析装置を用いた架橋ポリエチレンの劣化診断方法

発明者：
岩田 俊光

岩田 俊光 について

, 
高坂 健一

高坂 健一 について


出願人/特許権者：
社団法人電線総合技術センター

社団法人電線総合技術センター について


代理人 (1件)： 須山 佐一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-049123
公開番号（公開出願番号）：特開2000-241351
出願日： 1999年02月25日
公開日（公表日）： 2000年09月08日
要約：
【要約】【課題】 架橋ポリエチレン材料が被覆された電線・ケーブルの経年劣化を容易にかつ精度よく診断することができる劣化診断方法を提供する。【解決手段】 被試験体としての架橋ポリエチレン材料の蛍光スペクトルを測定し、これらの蛍光スペクトルの蛍光強度と、予め求めておいたその材料の劣化前の試料の蛍光スペクトルの同一波長における蛍光強度を比較することにより測定試料の劣化度を診断する。
請求項（抜粋）：
種々の劣化因子を受けた架橋ポリエチレンからなる材料を蛍光分光装置を用いて蛍光スペクトルを測定し、その蛍光強度と予め求めておいて劣化前の架橋ポリエチレンと特定波長における強度と比較することにより、前記架橋ポリエチレン材料の劣化度を診断することを特徴とする架橋ポリエチレン材料の劣化診断方法。
IPC (3件)：
G01N 21/64 ,  G01N 17/00 ,  G01N 33/44
FI (3件)：
G01N 21/64 Z ,  G01N 17/00 ,  G01N 33/44
Fターム (26件)：
2G043AA03 ,  2G043BA14 ,  2G043CA05 ,  2G043DA04 ,  2G043DA08 ,  2G043EA01 ,  2G043FA03 ,  2G043GA07 ,  2G043GA21 ,  2G043GB07 ,  2G043GB21 ,  2G043GB28 ,  2G043KA05 ,  2G043LA01 ,  2G043NA11 ,  2G050AA02 ,  2G050AA04 ,  2G050BA09 ,  2G050BA10 ,  2G050BA20 ,  2G050CA01 ,  2G050DA01 ,  2G050EA01 ,  2G050EA03 ,  2G050EA10 ,  2G050EB07
引用特許：
審査官引用 (1件)
引用文献：
審査官引用 (1件)

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