特許

J-GLOBAL ID：200903062635980541

均一粒状物質の個数判定法

発明者： 佐藤 洋一
出願人/特許権者： 積水化学工業株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-335014
公開番号（公開出願番号）：特開平5-165958
出願日： 1991年12月18日
公開日（公表日）： 1993年07月02日
要約：

【要約】【目的】 任意に分散して存在する均一粒状物質の個数を、接着の有無及びその個数とともに高精度で確実に判定する方法を提供すること。【構成】 画像中の各パターンのX方向の幅とY方向の幅の両者が共に予め設定しておいた基準値以下ならば、粒状物質が接着せずに単独で存在していると判定してその個数を求めておき、各パターンのX方向の幅とY方向の幅の少なくとも一方が上記基準値超えであれば、粒状物質が接着していると判定して当該パターンの輪郭構成画素の位置情報からその内部の画素数を求め、その画素数を予め設定しておいた基準画素数で除算することで接着パターンの粒子個数を判定するようにしたものである。

請求項（抜粋）：

任意に分散して存在する均一な粒状物質の個数を判定する、均一粒状物質の個数判定法であって、判定対象の下方から投光してその透過光を2値画像として撮像し、撮像された画像中の各パターンの境界を追跡してその輪郭構成画素の位置情報を記憶し、その位置情報を基に各パターンのX及びY方向の最大・最小位置の差から当該パターンのX及びY方向の幅を求め、各パターンのX方向の幅とY方向の幅の両者が共に予め設定しておいた基準値以下ならば、粒状物質が接着せずに単独で存在していると判定してその個数を求めておき、各パターンのX方向の幅とY方向の幅の少なくとも一方が上記基準値超えであれば、粒状物質が接着していると判定して当該パターンの輪郭構成画素の位置情報からその内部の画素数を求め、その画素数を予め設定しておいた基準画素数で除算することで接着パターンの粒子個数を判定することを特徴とする均一粒状物質の個数判定法。

IPC (4件)：

G06F 15/70 330 ,  G01N 15/10 ,  G01N 15/14 ,  G06F 15/62 400