特許

J-GLOBAL ID：200903062641317633

液晶装置の接続状態検査方法及び液晶装置の製造方法

発明者： 遠藤 甲午
出願人/特許権者： セイコーエプソン株式会社
代理人 (1件)： 鈴木 喜三郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-192449
公開番号（公開出願番号）：特開平9-130036
出願日： 1987年02月13日
公開日（公表日）： 1997年05月16日
要約：

【要約】【課題】液晶表示パネルの実装信頼性のチェックを容易にする。【解決手段】一辺に複数の電極端子が形成された液晶パネルと、半導体部品を搭載し複数の電極端子を有する接続部品とを有し、液晶パネルと接続部品とは複数の電極端子で導電粒子が分散された接着剤を介して電気的接続されてなる液晶装置において、接続部品の電極端子のうち少なくとも1本は前記液晶パネルの一辺に形成された電極端子と接続されておらず、されに液晶パネルの電極端子と接続されていない前記接続部品の電極端子と相対向する領域の液晶パネル側には電極端子が形成されていない。

請求項（抜粋）：

一対の基板間に液晶を挟持してなる液晶パネルと、半導体部品を搭載し複数の電極端子を有する接続部品とを有し、前記液晶パネルの少なくとも一辺には複数の電極端子が形成され、前記液晶パネルと前記接続部品とは複数の電極端子で導電粒子が分散された接着剤を介して電気的接続されてなる液晶装置において、前記接続部品の電極端子のうち少なくとも1本は前記液晶パネルの一辺に形成された電極端子と接続されておらず、さらに液晶パネルの電極端子と接続されていない前記接続部品の電極端子と相対向する領域の液晶パネル側には電極端子が形成されていないことを特徴とする液晶装置。

IPC (4件)：

H05K 3/36 ,  G01R 31/02 ,  G02F 1/1345 ,  G01R 31/00

FI (4件)：

H05K 3/36 A ,  G01R 31/02 ,  G02F 1/1345 ,  G01R 31/00