特許
J-GLOBAL ID:200903062671923406

視線測定精度評価装置及びその方法と、視線測定精度評価プログラム及びそのプログラムを記録した記録媒体

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 小笠原 吉義 ,  森田 寛 ,  岡田 光由
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-294472
公開番号(公開出願番号):特開2004-129684
出願日: 2002年10月08日
公開日(公表日): 2004年04月30日
要約:
【課題】本発明は、視線測定装置の測定精度を適切に評価できるようにする視線測定精度評価技術の提供を目的とする。【解決手段】複数の対象物の配置されたものを構成する各対象物の空間中に占める領域を決定して、その対象物配置をユーザに提示して対象物を注視させるように指示し、これに応答して、ユーザが対象物を注視することになるので、その対象物を取得する。このとき、視線測定装置が視線を測定するので、その測定結果と各対象物の領域情報とに基づいて、ユーザが注視していると思われる対象物を推定して、その取得した対象物とその推定した対象物とが一致するのか否かを判断する。そして、複数の対象物を注視することにより得られるその判断結果の集計に基づいて、視線測定装置の測定精度の評価値を算出することで、ユーザの見分ける対象物の領域形状を考慮した形でその評価値を得るようにする。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
ユーザにより1つ又は複数の対象物が見分けられる作業で用いられる視線測定装置の測定精度を評価する視線測定精度評価装置であって、 上記作業の対象となる各対象物の空間中に占める領域を決定する手段と、 ユーザに対して上記対象物を1つずつ順次提示して、その対象物への注視を指示する手段と、 視線測定装置の測定結果と上記領域の情報とに基づいて、ユーザが注視していると思われる個所が上記提示した対象物に含まれているのか否かを判断する手段と、 上記判断結果の集計に基づいて、視線測定装置の測定精度の評価値を算出する手段とを備えることを、 特徴とする視線測定精度評価装置。
IPC (2件):
A61B3/113 ,  G01D18/00
FI (2件):
A61B3/10 B ,  G01D18/00
Fターム (2件):
2F076AA06 ,  2F076AA15
引用特許:
審査官引用 (1件)

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