特許
J-GLOBAL ID：200903062688968330
パノラマ断層撮影を実施するための放射線診断装置及びその作動方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
矢野 敏雄 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-125617
公開番号（公開出願番号）：特開平10-052426
出願日： 1995年07月28日
公開日（公表日）： 1998年02月24日
要約：
【要約】【課題】 計算すべきパノラマ像のための所望のスライス位置を求めるのに要する時間を低減した放射線診断装置及びその作動方法を提供する。【解決手段】 計算機が所望のスライス位置を、複数の単一スライスの位置を計算して評価処理することによって求める。
請求項（抜粋）：
放射線を用いて被検対象(1)をトモグラフ走査するため、及び被検対象(1)の放射線陰影に依存して電気信号を形成するためのユニット(2、3、4)と、トモグラフ走査中に前記電気信号を記憶するメモリ(5)を有し、所望のスライス位置(10)での被検対象(1)のスライス画像に相応する信号を計算する計算機(6)を有する信号処理装置とを有するパノラマ断層撮影を実施するための放射線診断装置において、計算機(6)が所望のスライス位置(10)を、複数の単一スライスの位置(12、15)を計算して評価処理することにより求めることを特徴とするパノラマ断層撮影を実施するための放射線診断装置。
引用特許：
前のページに戻る
