特許

J-GLOBAL ID：200903062698030756

染色体異常検出装置

発明者： 早田 勇 ,  山本 幹男 ,  古田 伸一 ,  角田 みすず
出願人/特許権者： 科学技術庁放射線医学総合研究所長 ,  株式会社ニコン
代理人 (1件)： 永井 冬紀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-190981
公開番号（公開出願番号）：特開平5-180832
出願日： 1991年07月05日
公開日（公表日）： 1993年07月23日
要約：

【要約】【目的】 小さい染色体およびフラグメントを正確に認識することができる染色体異常検出装置を提供することを目的とする。【構成】 撮像した染色体標本の画像の面積を算出し(算出された面積を第1の面積とする)、次に、ある閾値で画像の各画素の濃度を二値化する。閾値をある程度大きくして二値化すると、画像の濃度の低い画素部分が消えるため、画像が2つ以上に分離することになる。このように、画像が2つ以上に分離するような閾値を用いて画像の二値化を行う。そして、分離された画像のそれぞれの面積算出する。分離された画像のそれぞれの面積の和と第1の面積との比率および分離された画像のそれぞれの面積の相違率に基づいて染色体異常の有無を判断する。

請求項（抜粋）：

染色体標本を各画素ごとに濃度を持った画像として入力する撮像手段と、前記画像の面積を算出する第1の面積算出手段と、前記画像の各画素の濃度をある閾値で二値化する二値化手段と、二値化された画像が2つ以上に分離するように前記閾値を変化させる閾値設定手段と、2つ以上に分離された画像のそれぞれの面積を算出する第2の面積算出手段と、前記第2の面積算出手段で算出されたそれぞれの面積と前記第1の面積算出手段で算出された面積とに基づいて染色体異常の有無を判断する判断手段とからなる染色体異常検出装置。

IPC (4件)：

G01N 33/50 ,  A61B 10/00 ,  G06F 15/62 390 ,  G06F 15/70 460