特許

J-GLOBAL ID：200903062750176853

X線撮影装置

発明者： 菱田 倫匡 ,  宇野 往道
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 佐藤 祐介
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-087432
公開番号（公開出願番号）：特開平9-260093
出願日： 1996年03月15日
公開日（公表日）： 1997年10月03日
要約：

【要約】【課題】 自動露出用X線検出器の出力のばらつきを補正するための調整が容易に行えるようにする。【解決手段】 可変抵抗などを調整するのではなくて、制御器13からアナログ演算器71〜73に与えるゲイン調整信号を変化させることによって、自動露出用X線検出器41〜49の出力ゲインを調整し、これら検出器41〜49の個々の出力のばらつきを補正する。

請求項（抜粋）：

X線発生手段と、自動露出用X線検出手段と、該X線検出手段の出力のゲインを調整するゲイン調整手段と、調整後の出力を積分する積分手段と、該積分値と設定値とを比較し、積分値が設定値に達したときにX線遮断信号を生じる比較手段と、上記のゲイン調整手段を制御してゲインを変化させる制御手段とを備えることを特徴とするX線撮影装置。

IPC (3件)：

H05G 1/44 ,  A61B 6/00 300 ,  A61B 6/00 320

FI (3件)：

H05G 1/44 A ,  A61B 6/00 300 A ,  A61B 6/00 320 Z

引用特許：

審査官引用 (4件)

• X線診断装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-016336   出願人：株式会社東芝
• 特開平3-241700
  
• 特開昭63-289797
  
• 特開昭61-288399