特許
J-GLOBAL ID:200903062829259827
印刷製品の品質管理のための測定装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
志賀 正武 (外7名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-319950
公開番号(公開出願番号):特開2001-158083
出願日: 2000年10月19日
公開日(公表日): 2001年06月12日
要約:
【要約】【課題】 本発明の目的は、許容できる度量衡学的経費、測定装置で得ることのできる多数の測定値、およびさらに処理するために増やすことのできる可能性を備えているような方法で測定装置を発展させることである。【解決手段】 本発明によればこの目的は、一方の照明チャネル1には偏光フィルタが設けられず、かつもう一方の照明チャネル2には偏光フィルタ2.1が設けられており、これにより偏光していない光および偏光した光が測定場所に作用するとともに、前記各照明チャネル1,2には、前記測定場所から反射された光を偏光する装置4.1を有しない反射チャネル3、前記測定場所から反射された光を偏光する装置4.1を有する反射チャネル4がそれぞれ設けられていることにより達成される。
請求項(抜粋):
印刷製品の品質管理のための測定装置であって、測定場所を照らす照明チャネルを備え、前記測定場所から反射された光を捕らえる反射チャネル、下流側に接続されるとともに反射された放射をスペクトル的に分析する評価ユニット、および前記照明チャネルおよび/または反射チャネルに配置された複数の偏光フィルターを備える測定装置において、一方の照明チャネル(1)には偏光フィルタが設けられず、かつもう一方の照明チャネル(2)には偏光フィルタ(2.1)が設けられており、これにより偏光していない光および偏光した光が測定場所に作用するとともに、前記各照明チャネル(1,2)には、前記測定場所から反射された光を偏光する装置(4.1)を有しない反射チャネル(3)、前記測定場所から反射された光を偏光する装置(4.1)を有する反射チャネル(4)がそれぞれ設けられていることを特徴とする印刷製品の品質管理のための測定装置。
IPC (4件):
B41F 33/14
, G01J 3/447
, G01J 3/50
, G01N 21/47
FI (4件):
G01J 3/447
, G01J 3/50
, G01N 21/47 E
, B41F 33/14 G
引用特許:
審査官引用 (2件)
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特開2045-192841
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特開平4-203955
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