特許
J-GLOBAL ID:200903062850307580

X線診断装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 堀口 浩
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-178466
公開番号(公開出願番号):特開2008-253803
出願日: 2008年07月08日
公開日(公表日): 2008年10月23日
要約:
【課題】 1つの装置で回転撮影、ディジタル断層像、三次元再構成、拡大撮影等の様々なイメージングを、解像度の劣化や計算時間の増加を引き起こすことなく可能とする。【解決手段】 Cアーム4の両端部にX線発生部2と、固体X線感応素子で形成された固体X線検出器3とを設け、検出器回転機構6により、例えば画像再構成領域の画素の並びに沿った断面に平行となるように固体X線検出器3を回転駆動してX線入射角度を調整する。これにより、1つの装置で回転撮影、ディジタル断層撮影、三次元再構成等の様々なイメージングを可能とすることができるうえ、X線入射角度の調整により所望の拡大率での撮影を可能とすることができる。また、非線形変換処理のためのリサンプリングを不要として、解像度の劣化や計算時間の増加を防止することができる。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
被検体に対してX線を曝射するX線発生手段と、 前記被検体を透過したX線像を電気的な画像信号に変換するX線平面検出器と、 前記X線発生手段と前記X線平面検出器を支持するC形状のアームと、 前記アームを回動可能に支持する支持手段と、 前記X線平面検出器は、前記アームに該平面検出器の支持角度を調整する調整手段を介し て支持され、 前記調整手段は、前記アームの前記支持手段による回動に応じて前記平面検出器の支持角 度を調整可能であることを特徴とするX線診断装置。
IPC (1件):
A61B 6/00
FI (1件):
A61B6/00 300Z
Fターム (16件):
4C093AA01 ,  4C093AA09 ,  4C093AA11 ,  4C093AA24 ,  4C093BA11 ,  4C093EA20 ,  4C093EB12 ,  4C093EB21 ,  4C093EC16 ,  4C093EC24 ,  4C093EC28 ,  4C093FA32 ,  4C093FF08 ,  4C093FF09 ,  4C093FF11 ,  4C093FF34
引用特許:
出願人引用 (3件)
  • 特開平3-275043
  • 特開平1-181846
  • 移動体検出方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-140198   出願人:名古屋電機工業株式会社
審査官引用 (5件)
  • 特開平3-275043
  • 特開平3-275043
  • 特開平1-181846
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