特許
J-GLOBAL ID：200903062857516380
ICソケット及びそれを用いたIC試験方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
伊東 忠彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-073927
公開番号（公開出願番号）：特開平8-271579
出願日： 1995年03月30日
公開日（公表日）： 1996年10月18日
要約：
【要約】【目的】 本発明はICソケットに関し、プローブを接触子へ接触させる操作をし易くすることを目的とする。【構成】 接触子13は、ICのリード41と接触する接触端子部13cより反対方向に延出しているチェック用端子部13fを有する。上部体12は、仕切り壁部12b-3によって仕切られた偏平な空間12b-5を有する。この偏平空間12b-5内にチェック用端子部13fが収容されている。上部体12は、天板部12b-1のうち、偏平な空間12b-5に対応する部位に、プローブが挿入されるガイド孔12b-4を有する。ガイド孔12b-4内に挿入されたプローブ15は、チェック用端子部13fに接触するよう構成する。
請求項（抜粋）：
複数の接触子がICソケット本体内に組込まれてなるICソケットにおいて、該ICソケット本体に、プローブが差し込まれ、該差し込まれたプローブを一の接触子に導くプローブガイド部を設けた構成としたことを特徴とするICソケット。
IPC (3件)：
G01R 31/26
, H01L 23/32
, H01R 33/76
G01R 31/26 J
, H01L 23/32 A
, H01R 33/76
