特許

J-GLOBAL ID：200903062860758360

構造解析装置

発明者： 佐竹 誉大 ,  江澤 良孝 ,  保川 彰夫 ,  佐々木 康二
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-314858
公開番号（公開出願番号）：特開平11-149466
出願日： 1997年11月17日
公開日（公表日）： 1999年06月02日
要約：

【要約】【課題】大規模かつ複雑な対象を高精度に解析する。【解決手段】対象とする構造全体のモデル31と、構造全体のモデルの一部を取り出した部分モデル33と、取り出した一部を詳細に解析するための部分詳細モデル36を用い、該部分モデルと該部分詳細モデルの解析解の差異39を用いて構造全体の解析条件及び詳細部の解析条件を求め、高精度の解析を行う。

請求項（抜粋）：

電子計算機を用い、構造の挙動を解析する演算装置において、対象とする構造全体のモデルと、構造の一部を取り出したモデルを用い、構造全体の解析結果から部分構造の境界条件を取り出し、その境界条件による部分構造の解析結果より全体構造の解析条件を修正し、再度構造全体の解析を行う反復計算により、対象とする構造の挙動を解析することを特徴とする構造解析装置。

IPC (4件)：

G06F 17/10 ,  G01M 19/00 ,  G06F 15/16 430 ,  G06F 17/50

FI (4件)：

G06F 15/31 Z ,  G01M 19/00 Z ,  G06F 15/16 430 Z ,  G06F 15/60 612 H