特許
J-GLOBAL ID：200903062876190339
半導体試験装置のプログラム実行方式
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
雨貝 正彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-141090
公開番号（公開出願番号）：特開2000-330816
出願日： 1999年05月21日
公開日（公表日）： 2000年11月30日
要約：
【要約】【課題】 それぞれのテストヘッドを制御するデバイステストプログラムの実行によって得られた試験結果やプログラムの変更内容をデバイステストプログラム間で共通に利用することができるようにする。【解決手段】 半導体試験装置100は共通プログラムを指定するプログラム指定コマンドを含んで構成された2種類のテストプログラムを用いて2台のテストヘッドに実装された被測定デバイス17A,17Bを試験する。中間コード群コンパイラによってテストプログラムをコンパイルする際に、プログラム指定コマンドの位置に共通プログラムにリンクさせる中間コードを挿入する。テスタ制御部110はコンパイルされたテストプログラムを実行する際に、中間コードによってリンクされている共通プログラムをテストプログラムとは独立して実行し、共通プログラムの内容が変更された場合でもその変更内容が、テストプログラムに共通に反映されるようにする。
請求項（抜粋）：
共通プログラムを指定するプログラム指定コマンドを含んで構成された第1のデバイステストプログラムを第1のテストヘッドに実装された被測定デバイスの試験用プログラムとして供給する第1のプログラム供給手段と、前記共通プログラムを指定するプログラム指定コマンドを含んで構成された第2のデバイステストプログラムを第2のテストヘッドに実装された被測定デバイスの試験用プログラムとして供給する第2のプログラム供給手段と、前記第1及び第2のデバイステストプログラム中の前記プログラム指定コマンドの位置に、前記プログラム指定コマンドによって指定された前記共通プログラムにリンクさせる中間コードを挿入することによって前記第1及び第2のデバイステストプログラムをコンパイルし、コンパイルされた前記第1及び第2のデバイステストプログラムを実行する際に前記中間コードに基づいて前記共通プログラムを前記第1及び第2のデバイステストプログラムとは別個に実行する実行手段とを備えることを特徴とする半導体試験装置のプログラム実行方式。
IPC (2件)：
G06F 11/22 310
, G01R 31/28
G06F 11/22 310 A
, G01R 31/28 H
2G032AE12
, 5B048AA20
, 5B048DD01
, 9A001BB05
, 9A001DD04
, 9A001DD05
, 9A001JJ45
, 9A001KK37
, 9A001LL05
