特許

J-GLOBAL ID：200903062970388444

抵抗測定装置及び画像形成装置

発明者： 石井 宏一
出願人/特許権者： 株式会社リコー
代理人 (1件)： 黒田 壽
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-213290
公開番号（公開出願番号）：特開2002-108068
出願日： 2001年07月13日
公開日（公表日）： 2002年04月10日
要約：

【要約】【課題】 従来の抵抗測定方法よりも、短時間で、かつ、広い範囲の抵抗値を測定することができる抵抗測定装置を提供することである。【解決手段】 感光体ドラム1との間でバイアスを形成するための帯電ローラ2の抵抗値を測定する抵抗測定装置は、CPU、RAM、RОM、I/О、タイマー等を有する制御装置3、電流計を備えた制御板4、電流計で検出した検出結果に基づいて帯電ローラ2の抵抗値を算出するマイクロコンピュータ等の演算手段5、帯電ローラに所定のバイアスを印加するための高圧電源6等から構成されている。高圧電源によるバイアス印加により帯電ローラを流れる尖頭電流を電流計により検出したら、その検出した尖頭電流に基づいて帯電ローラの抵抗値を算出する。これによれば、短時間で抵抗測定ができるので、例えば、複写機のジョブごとに抵抗測定モードを設け、その測定結果に基づき、帯電ローラに印加するバイアス値を制御することが可能になる。

請求項（抜粋）：

トナー像を担持する像担持体との間でバイアスを形成するためのバイアス形成部材にバイアスを印加するバイアス印加手段を備え、上記バイアス形成部材の抵抗値を測定する抵抗測定装置であって、上記バイアス印加手段によるバイアス印加により上記バイアス形成部材を流れる尖頭電流を検出する電流検出手段と、上記電流検出手段により検出した尖頭電流に基づいて、上記バイアス形成部材の抵抗値を算出する抵抗値算出手段とを有することを特徴とする抵抗測定装置。

IPC (3件)：

G03G 15/02 102 ,  G01R 27/02 ,  G03G 15/00 303

FI (3件)：

G03G 15/02 102 ,  G01R 27/02 R ,  G03G 15/00 303

Fターム (41件)：

2G028AA02 ,  2G028BC03 ,  2G028CG02 ,  2G028DH03 ,  2G028DH05 ,  2G028FK02 ,  2G028FK08 ,  2G028GL12 ,  2G028LR07 ,  2H027DA01 ,  2H027DA02 ,  2H027DA03 ,  2H027DA06 ,  2H027DA32 ,  2H027DE05 ,  2H027DE07 ,  2H027DE09 ,  2H027EA01 ,  2H027EA15 ,  2H027EC06 ,  2H027EC09 ,  2H027EC20 ,  2H027ED01 ,  2H027ED03 ,  2H027EE07 ,  2H027EF01 ,  2H027ZA01 ,  2H027ZA08 ,  2H200FA18 ,  2H200GB50 ,  2H200HA02 ,  2H200HA29 ,  2H200HA30 ,  2H200HB12 ,  2H200HB48 ,  2H200NA03 ,  2H200PA05 ,  2H200PB05 ,  2H200PB08 ,  2H200PB38 ,  2H200PB40