特許

J-GLOBAL ID：200903063028328076

測定チップ位置決め機構

発明者： 大塚 尚
出願人/特許権者： 富士写真フイルム株式会社
代理人 (2件)： 柳田 征史 ,  佐久間 剛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-207433
公開番号（公開出願番号）：特開2004-053279
出願日： 2002年07月16日
公開日（公表日）： 2004年02月19日
要約：

【課題】全反射光を利用した測定装置上での測定チップの位置精度を出しやすい測定チップ位置決め機構を提供する。【解決手段】位置決めアタッチメント12の上面12aが位置決め部材27に当接し、かつ位置決めアタッチメント12の端部が位置決め部材27のL字状の部位に接するように測定ユニットアセンブリ10を付勢部材28により付勢する。その後光ビーム20を測定ユニットアセンブリ10の内底面に形成された薄膜層14と、その下の誘電体ブロック13との界面14aで全反射条件が得られるように種々の角度で入射させ、界面14aにおいて全反射した光ビーム20を光検出器23で検出し、該光検出値に基づいて全反射減衰の状態を測定し、試料液9の特性を求める。位置決めアタッチメント12の面12aを鏡面状に形成することにより、位置決めアタッチメント12が位置決め部材27と当接する部位でのがたつきが防止される。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

試料に接触させられる薄膜層を一面に形成された誘電体ブロックからなる測定チップに対して、前記誘電体ブロックと前記薄膜層との界面で全反射条件となる角度で光ビームを入射させ、前記界面で全反射した光ビームの強度を検出する測定装置に用いられる測定チップ位置決め機構であって、 前記測定チップの一部に取り付けられる、表面が鏡面状に形成された位置決めアタッチメントと、 該位置決めアタッチメントの前記表面に当接して、前記測定チップを位置決めする位置決め部材とからなることを特徴とする測定チップ位置決め機構。

IPC (2件)：

G01N21/27 ,  G01N21/03

FI (2件)：

G01N21/27 C ,  G01N21/03 Z

Fターム (25件)：

2G057AA02 ,  2G057AB04 ,  2G057AB07 ,  2G057AC01 ,  2G057BA01 ,  2G057BB01 ,  2G057BB06 ,  2G059AA01 ,  2G059AA05 ,  2G059BB04 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE02 ,  2G059EE05 ,  2G059EE09 ,  2G059FF09 ,  2G059GG01 ,  2G059GG04 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK04 ,  2G059PP04