特許
J-GLOBAL ID：200903063042746530
マルチビーム走査型画像形成装置・走査線ピッチむら検出方法・走査線ピッチむら検出装置および走査線ピッチむら補正装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
樺山 亨 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-225116
公開番号（公開出願番号）：特開平10-058746
出願日： 1996年08月27日
公開日（公表日）： 1998年03月03日
要約：
【要約】【課題】マルチビーム走査型画像形成装置において、走査線ピッチのむらを容易に検出する。【解決手段】複数の光源からの光束を光導電性の感光体上に副走査方向に分離した複数の光スポットとして集光し、これら複数の光スポットにより上記感光体を同時に走査するマルチビーム走査型画像形成装置において、複数の光スポットにより同時に走査される走査線のピッチむらを検出する方法であって、全ての光スポットによる同時の走査を繰り返して行なって、ピッチむら検出用の潜像パターンを形成し、この潜像パターンの平均的な電位を電位センサ49Bにより検出し、電位センサ49Bによる検出値を、所定の比較値と比較することにより走査線のピッチむらを検出する。
請求項（抜粋）：
複数の光源からの光束を光導電性の感光体上に副走査方向に分離した複数の光スポットとして集光し、これら複数の光スポットにより上記感光体を同時に走査するマルチビーム走査型画像形成装置において、複数の光スポットにより同時に走査される走査線のピッチむらを検出する方法であって、全ての光スポットによる同時の走査を繰り返して行なって、ピッチむら検出用の潜像パターンを形成し、この潜像パターンの平均的な電位を電位センサにより検出し、上記電位センサによる検出値を、所定の比較値と比較することにより走査線のピッチむらを検出することを特徴とする走査線ピッチむら検出方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
B41J 3/00 D
, G02B 26/10 B
