特許
J-GLOBAL ID：200903063050763444
画像検査装置及び画像検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
半田 昌男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-307942
公開番号（公開出願番号）：特開平10-148515
出願日： 1996年11月19日
公開日（公表日）： 1998年06月02日
要約：
【要約】【課題】 製品を検査して発見されたた欠陥に関する情報を利用して、製造工程の問題点を見いだすのに利用できる画像検査装置を提供する。【解決手段】 画像処理装置12によって欠陥の有無及びその種類が判定された検査結果をコンピュータ14によって集計し統計結果を得る。この統計結果は、1ロット50個のキャップを単位としてコンピュータのCRT画面上に表示される。表示された画面上で斜線を施した数字(実際には所定の色で表示する)は、その数字に対応するキャップに欠陥が見つかったことを意味している。図3では、6番、23番、24番、26番、49番の数字に斜線が施されており、これらの番号のキャップに欠陥が見つかったことを示している。
請求項（抜粋）：
検査対象物の画像を取り込む撮像手段と、前記撮像手段から出力される画像信号に対し所定の画像処理を行って検査対象物における欠陥の有無及びその種類を検査する画像処理手段と、前記画像処理手段によって得られた検査結果に基づいて、複数の前記検査対象物の検査結果を集計し統計結果を得る検査結果集計手段と、前記検査結果集計手段によって得られた統計結果のうちの必要な部分を所定の形式で表示する画像表示手段と、を具備することを特徴とする画像検査装置。
IPC (4件)：
G01B 11/24
, G01B 11/30
, G01N 21/88
, H04N 7/18
G01B 11/24 H
, G01B 11/30 Z
, G01N 21/88 J
, H04N 7/18 B
