特許

J-GLOBAL ID：200903063055296569

光学部品の調芯方法

発明者： 楠井 直樹 ,  長島 光男
出願人/特許権者： 東芝機械株式会社
代理人 (1件)： 鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-286468
公開番号（公開出願番号）：特開平5-127056
出願日： 1991年10月31日
公開日（公表日）： 1993年05月25日
要約：

【要約】【目的】簡単な構成で能率良く適正位置に調芯する多芯光軸光学部品の調芯方法を提供することにある。【構成】光パワー測定部25により測定された測定値に基いて制御手段29により上記第1および第2の光学部品11,12の対向面での光軸の配列位置を代表する直線をそれぞれ求めその傾きの差に応じて、XYZθステージ1により直線の傾きを調整して一致させ、この一致後、複数の光軸組のうち、代表する一光軸組について光源部24により光を入射せるとともに出射させ、この出射光を測定してその測定値が最大となるよう上記直線の傾きを維持しつつ、上記第1および第2の光学部品11,12をXY方向に移動して調芯する。

請求項（抜粋）：

直交するX軸、Y軸からなるXY平面に対し直交する複数の平行な光軸を有しその光軸が略直線上に位置する第1および第2の光学部品を前記XY平面を介して離間対向させ、前記第1の光学部品に光入射手段により光を入射させるとともに、この光を前記第2の光学部品から出射させ、この出射される光の光量を光量測定手段により測定し、この光量測定手段により測定された測定値に基いて上記第1および第2の光学部品の相対位置を調整手段により調整する光学部品の調芯方法において、上記光量測定手段により測定された測定値に基いて制御手段により上記第1および第2の光学部品の対向面での光軸の配列位置を代表する直線をそれぞれ求めその傾きの差に応じて、上記調整手段により直線の傾きを調整して一致させ、この一致後、上記複数の光軸組のうち、代表する一光軸組について上記光入射手段により光を入射せるとともに出射させ、この出射光を測定してその測定値が最大となるよう上記直線の傾きを維持しつつ、上記第1および第2の光学部品をXY方向に移動して調芯することを特徴とする光学部品の調芯方法。