特許
J-GLOBAL ID:200903063085158160

衝突および反応装置による質量分析における不要なイオン化種を弁別する装置および方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 柳田 征史 (外1名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-552079
公開番号(公開出願番号):特表2003-519899
出願日: 2000年11月24日
公開日(公表日): 2003年06月24日
要約:
【要約】固有に変調されるソース、または何らかの変調またはゲーティング技法を受ける連続ソースからのものでよいイオンの変調ストリームを供給する質量分析装置および方法。イオンはその後、イオンのパルスまたは一連のパルスとして加圧反応セルに送給され、そこで、セル内のガスと反応および/または衝突が生じる。その後イオンは、加圧セルから検出のために質量分析器に通過する。質量分析器、イオン検出器またはイオン誘発信号処理システムは、イオンのパルスの放出の時間に相対的に設定された時限に検出器に到達するイオンだけが分析に使用されるように動作する。この時限の慎重な選定によって、増強された特異性が得られ、干渉イオンの作用が低減され得ることが判明した。
請求項(抜粋):
イオンの変調ストリームを生成するためのイオン生成手段と、 イオン生成手段の変調ストリームからイオンを受け取り、衝突または反応ガスを包有しており、そこにおいてイオンがガスと衝突および/または反応する加圧反応セルと、 加圧反応セルからイオンを受け取り、イオンを質量分析するための質量分析器およびイオン検出器と、 イオン誘発信号検出・処理手段と、 前記イオン生成手段ならびに、前記質量分析器、イオン検出器およびイオン誘発信号検出・処理手段のうちの少なくとも1つと接続された制御装置とを含み、前記制御装置はイオンの放出をイオン生成手段によって制御し、イオン検出およびイオン誘発信号の処理の少なくとも一方を同期させ、それによってイオン生成手段によるイオンの放出に関して設定された所望の時限において検出器に到達するイオンだけが分光測定分析に使用される、質量分析装置。
IPC (3件):
H01J 49/26 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/10
FI (7件):
H01J 49/26 ,  G01N 27/62 G ,  G01N 27/62 H ,  G01N 27/62 K ,  G01N 27/62 L ,  G01N 27/62 Z ,  H01J 49/10
Fターム (8件):
5C038GG09 ,  5C038GH11 ,  5C038GH13 ,  5C038GH15 ,  5C038HH02 ,  5C038HH05 ,  5C038HH16 ,  5C038HH26

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