特許

J-GLOBAL ID：200903063088979890

ソフトウェア部品組み合わせテスト方法

発明者： 佐伯 信夫 ,  平井 千秋 ,  矢野 理
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-034629
公開番号（公開出願番号）：特開平10-232795
出願日： 1997年02月19日
公開日（公表日）： 1998年09月02日
要約：

【要約】【課題】ソフトウェア部品内の構造を調べずに網羅性を保証した組み合わせテストができるようにすることを目的とする。【解決手段】網羅性を保証できる単体テスト用データを持つソフトウェア部品を使い作成したプログラムの組み合わせテストを行う組み合わせテスト方法において、単体テスト用データを単体テスト用データ格納ファイルに予め格納し、プログラムをプログラム格納ファイルに予め格納しておき、組み合わせテスト用データを入力し、組み合わせテストを行う際に、ソフトウェア部品ヘ入力された入力データを入力データ格納ファイルに格納し、単体テスト用データ格納ファイルに格納された単体テスト用データと、入力データ格納ファイルに格納された入力データを比較していないパスの入力データを得ることで、ソフトウェア部品内の構造を調べずに網羅性を保証した組み合わせテストを可能にする。

請求項（抜粋）：

網羅性を保証できる単体テスト用データを持つソフトウェア部品を使って作成したプログラムの組み合わせテストを行なうソフトウェア部品組み合わせテスト方法において、上記単体テスト用データを単体テスト用データ格納ファイルに予め格納し、上記プログラムをプログラム格納ファイルに予め格納しておき、組み合わせテスト用データを入力し、組み合わせテストを行なう際に、ソフトウェア部品へ入力された入力データを入力データ格納ファイルに格納するテスト処理を行い、単体テスト用データ格納ファイルに格納された単体テスト用データと、入力データ格納ファイルに格納された入力データを比較してテストしていないパスを得る比較処理を行い、テストしていないパスを通過するソフトウェア部品への入力データを表示する表示処理を行なうことを特徴とするソフトウェア部品組み合わせテスト方法。