質量分析装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：蛭川昌信 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-086565
公開番号（公開出願番号）：特開平10-283983
出願日： 1997年04月04日
公開日（公表日）： 1998年10月23日
要約：

【要約】【課題】混合されたスペクトルから単一のスペクトルを回復することを可能とし、検出効率を向上させる。【解決手段】複数個の出口スリットを通して検出されたスペクトル信号、及びスペクトルを変形する分析装置関数が入力されてディコンボリューション演算を行う演算装置を備え、ディコンボリューション演算により単独スリットのスペクトルを求めるようにしたことを特徴とする。

請求項（抜粋）：

複数個の出口スリットを通して検出されたスペクトル信号、及びスペクトルを変形する分析装置関数が入力されてディコンボリューション演算を行う演算装置を備え、ディコンボリューション演算により単独スリットのスペクトルを求めるようにしたことを特徴とする質量分析装置。

IPC (3件)：

H01J 49/26 , G01N 27/62 , H01J 49/30

FI (4件)：

H01J 49/26 , G01N 27/62 D , G01N 27/62 H , H01J 49/30

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