特許

J-GLOBAL ID：200903063128369950

超短光パルスのパルス幅間接測定装置

発明者： 太田 裕之
出願人/特許権者： 株式会社テラテック
代理人 (1件)： 志賀 正武 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-063939
公開番号（公開出願番号）：特開平7-270246
出願日： 1994年03月31日
公開日（公表日）： 1995年10月20日
要約：

【要約】【目的】 精度の高い時間分解能を得る。【構成】 超短光パルスはハーフミラーにより第1,第2超短光パルスに分割され、第1超短光パルスは固定プリズム,ハーフミラーを経て第1平行ビームとして出射され、レンズにより非線形結晶上に集光される。第2超短光パルスは可動プリズムステージ13,ハーフミラーを経て第2平行ビームとして出射され、レンズにより非線形結晶上に集光される。第1,第2平行ビームは可動プリズムステージ13で与えられる相対的時間差τを持って非線形結晶中で第2高調波信号光を発生する。第2高調波信号光は光検出手段により検出される。自己相関波形検出手段は光検出手段の出力信号に基づき超短光パルスの自己相関波形を検出する。レーザ式変位計14は可動プリズムステージ13の時間に対する変位を測定し、補正手段は変位測定手段の測定結果に基づき上記自己相関波形を補正する。

請求項（抜粋）：

パルス幅を測定すべき超短光パルスを等しい強度を有する第1および第2の超短光パルスに分割する光分割器と、前記第1の超短光パルスを入射し、前記光分割器を介して第1の平行ビームとして出射させる固定光反射器と、前記第2の超短光パルスを入射し、前記光分割器を介して第2の平行ビームとして出射させる、前記第1の平行ビームと前記第2の平行ビームとの相対的時間差を設定するための可動部を有する可動光反射器と、前記第1および第2の平行ビームを所定位置に集光させるレンズと、前記所定位置に設けられ、前記第1および第2の平行ビームが入射され、第2高調波信号光が発生される非線形結晶と、前記第2高調波信号光を検出する光検出手段と、前記光検出手段の出力信号に基づいて、前記超短光パルスの自己相関波形を検出する自己相関波形検出手段と、前記可動光反射器の時間に対する変位を測定する変位測定手段と、前記変位測定手段の測定結果に基づいて、前記超短光パルスの自己相関波形を補正する補正手段とを具備することを特徴とする超短光パルスのパルス幅間接測定装置。