特許
J-GLOBAL ID：200903063133500658
多ビームによる光度測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石田 敬 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-258782
公開番号（公開出願番号）：特開平7-167777
出願日： 1986年09月29日
公開日（公表日）： 1995年07月04日
要約：
【要約】【目的】 複数の分析部を有する分析板に配置された複数個の試料保持部に収納されている分析試料の光学的特性を測定する為の測定装置を提供する。【構成】 複数個の試料保持部40を通して光検知手段に光を伝達する光源手段12と、光検知手段からの出力を分析し試料の光密度を決定する手段50と、試料保持部のそれぞれと対応して設けられている、複数の光検知手段44と、試料保持部に対して、測定作を実行する以前に、該分析板に対して振動的な変位動作を繰り返し与える混合動作を与える手段54と、試料保持部に関連する光検知手段の信号を動的に分析する手段50とから構成される測定装置。
請求項（抜粋）：
複数の分析部を有する分析板に配置された複数個の試料保持部に収納されている分析試料の光学的特性を測定する為の測定装置で有って、該測定装置は、該光検知手段に対して光を伝達する為に、一つ若しくはそれ以上の数の当該試料保持部に対して光を供給する一つの光源手段と、該光検知手段からの出力を分析して該分析部に於ける分析試料の光密度を決定し且つ指示する手段と、光検出手段上に設けられていると共に、当該分析板との関係に於いて、当該光が該試料保持部のそれぞれを介して垂直に伝達され、該試料保持部のそれぞれと対応して設けられている、受光された光に応答して信号を出力する、光検知部により受光される様な関係に配置されている複数の光検知手段と、所定の試料保持部に対して、一連の測定に於けるそれぞれの操作を実行する以前の、各々の測定操作と測定操作との間の時間間隔が30秒を越えない様に、予め定められた時間間隔の間、該分析板に対して振動的な変位動作を繰り返し与えることにより当該各分析試料に繰り返し的で且つ同時的な混合動作を与える手段と、当該所定の試料保持部に関連する光検知手段の信号を動的に分析する手段とを含んでおり、更に該光源手段は、複数の光伝達手段のそれぞれに光を供給する複数個の光放射素子で構成されており、且つ該測定は、複数の試料保持部に於ける選択された1つ若しくは複数の試料に対して実行されるものである事を特徴とする測定装置。
IPC (4件)：
G01N 21/27
, G01N 1/10
, G01N 21/75
, G01N 35/02
