特許

J-GLOBAL ID：200903063150903863

磁歪定数測定方法

発明者： 高田 昭夫
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 小池 晃 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-094987
公開番号（公開出願番号）：特開平6-289113
出願日： 1993年03月31日
公開日（公表日）： 1994年10月18日
要約：

【要約】【目的】 小さな試料においても磁場印加の前後における磁歪による変形を正確に検出し、正確な磁歪定数を測定することを可能とする。【構成】 磁性体である試料1の少なくとも一端を支持体2によって支持し、電磁石3によって磁場を印加し、磁場の印加の前後における試料1の変形を原子間力走査型電子顕微鏡或いは走査型トンネル顕微鏡の探針4によって検出する。

請求項（抜粋）：

磁性体の少なくとも一端を支持し、磁場の印加の前後における磁性体の変形を原子間力走査型電子顕微鏡或いは走査型トンネル顕微鏡によって検出することを特徴とする磁歪定数測定方法。

IPC (3件)：

G01R 33/18 ,  G01B 7/34 ,  G01B 21/30

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平2-098681
  
• 特開平3-274480
  
• 特開平2-098681
  
• 特開平3-274480