特許

J-GLOBAL ID：200903063154343650

変位検出形測定ヘッドを用いた測定システム

発明者： 倉橋 康浩 ,  竹内 雄三
出願人/特許権者： 中小企業事業団
代理人 (1件)： 石田 敬 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-002122
公開番号（公開出願番号）：特開平7-204991
出願日： 1994年01月13日
公開日（公表日）： 1995年08月08日
要約：

【要約】【目的】 変位検出形測定ヘッドを用い、ワークの形状精度や寸法を精度よく測定する測定システムを提供する。【構成】 変位検出形測定ヘッド5のインターフェース回路11と、補正係数と補正値からなる校正データを記憶する記憶回路13と、測定ヘッド5の変位量に応じてインターフェース回路11から出力される変位量データと、記憶回路13に記憶された測定ヘッドに対応する校正データとから測定ヘッドの変位量のデータを補正する補正回路15と、測定ヘッド5の位置のデータを読み取り、補正回路15から出力される補正後の変位量のデータに基づき、ワークの形状精度や寸法のデータを演算して出力する演算回路17とを備えて構成する。

請求項（抜粋）：

NC工作機械の主軸に装着した変位検出形測定ヘッドを用いてワークの形状精度や寸法を測定する測定システムにおいて、前記変位検出形測定ヘッドから出力される変位量データを補正する補正係数からなる校正データを記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された前記補正係数を乗算して前記変位量データを補正する補正手段と、前記変位検出形測定ヘッドの位置データと前記補正手段から出力される補正された変位量データとに基づき、ワークの形状精度や寸法のデータを演算して出力する演算手段と、を備えたことを特徴とする変位検出形測定ヘッドを用いた測定システム。

IPC (2件)：

B23Q 17/20 ,  G01B 21/00

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭61-219814
  
• 特開昭59-030005
  
• 特開昭62-165111
  
• 特開昭63-106514