特許
J-GLOBAL ID：200903063163070429
面実装型電子部品における検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石井 暁夫 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-332997
公開番号（公開出願番号）：特開平6-180346
出願日： 1992年12月14日
公開日（公表日）： 1994年06月28日
要約：
【要約】【目的】 モールド部2から突出する各リード端子3を前記モールド部2の底面に向かって折り曲げて成る面実装型電子部品1において、その電気性能を、簡単な機構で、リード端子3の変形を低減した状態で検査する。【構成】 面実装型電子部品1を一列状に移送するようにしたガイド部材10と、左右一対のプローブヘッダ13,14を備えたスライド部材11とを備え、前記スライド部材を上下方向に往復動するようにした上下動機構12を備える一方、前記スライド部材11の各プローブヘッダ13,14に、前記電子部品1におけるリード端子3のうちモールド部2の底面側の部分に対して接当するようにしたプローブ15,16を各々設ける。
請求項（抜粋）：
モールド部から突出する各リード端子を前記モールド部の底面に向かって折り曲げて成る面実装型電子部品を一列状に移送するようにしたガイド部材と、少なくとも左右一対のプローブヘッダを備えたスライド部材とを備え、更に、前記スライド部材を前記ガイド部材に対して上下方向に往復動するようにした上下動機構を備える一方、前記スライド部材における各プローブヘッダに、前記電子部品におけるリード端子のうちモールド部の底面側の部分に対して接当するようにしたプローブを各々設けたことを特徴とする面実装型電子部品における検査装置。
IPC (4件)：
G01R 31/28
, G01R 31/26
, H01L 21/66
, H01L 21/68
