特許

J-GLOBAL ID：200903063195267739

粒子計数装置

発明者： 久保 良宏
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所
代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-079239
公開番号（公開出願番号）：特開平5-240770
出願日： 1992年02月29日
公開日（公表日）： 1993年09月17日
要約：

【要約】【目的】 レーザヘッドの出力変動などで生じる背景散乱光の変動に起因する背景ノイズをキャンセルして、S/N比を改善することが可能な粒子計数装置をうる。【構成】 フローセル1に設けた照射光窓2の外側に、レーザビーム5を集光レンズ6で集光してフローセル1に入射する照射光学系3が配置され、かつレーザビーム5の光軸と直交方向でフローセル1に設けた散乱光窓8の外側に、受光レンズ10a,10b が配置されている。また、レーザビーム5の光軸と直交方向に試料流体を噴出するノズル14がフローセル1に設けられ、かつ受光レンズ10a,10bで散乱光を結像させる2個のフォトダイオード11a,11b が、フローセル1内のレーザビーム5の光軸と平行方向に並べて配置されている。そして、フォトダイオード11a,11b が出力した2つの検出信号を、差または商で処理する演算回路12が設けられて、この演算回路12の出力信号に基づいて粒子を計数する。

請求項（抜粋）：

フローセル内に噴出させた試料流体にレーザビームを照射して、試料流体に含まれた粒子から生じる散乱光を検出して、前記粒子を計数する粒子計数装置において、前記試料流体の流動方向とレーザビームの光軸とが互いに直交方向にされ、かつ前記散乱光を検出する2個の光検出器が、レーザビームの光軸と平行方向に並べて配置され、この2個の光検出器から出力される2つの信号を差または商で電気的に演算する演算手段が設けられて、この演算手段の出力信号に基づいて粒子を計数することを特徴とする粒子計数装置。

IPC (2件)：

G01N 15/14 ,  G01N 15/02