特許

J-GLOBAL ID：200903063214822480

スキャンテスト回路、自動テストパターン生成装置、スキャンテスト方法、スキャンテスト回路設計方法、自動テストパターン生成方法、スキャンテスト回路設計方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体および自動テストパターン生成方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体

発明者： 岸本 靖則 ,  井下 順功 ,  井上 善雄
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社 ,  三菱電機システムエル・エス・アイ・デザイン株式会社
代理人 (1件)： 酒井 宏明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-174652
公開番号（公開出願番号）：特開2001-004710
出願日： 1999年06月21日
公開日（公表日）： 2001年01月12日
要約：

【要約】【課題】 スキャンテストにおいて、スキャンテスト回路中のデータ伝播経路(パス)における遅延故障を確実に検出し、実動作周波数を用いた適切なテストを簡単に実行できるスキャンテスト回路、自動テストパターン生成装置、スキャンテスト方法、スキャンテスト回路設計方法、自動テストパターン生成方法、スキャンテスト回路設計方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体および自動テストパターン生成方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体を得ること。【解決手段】 組み合わせ回路からのデータ取り込みの1つ前の周期で、出力ビットを反転するスキャンフリップフロップ1を備える。

請求項（抜粋）：

テスト対象回路からのデータ取り込みの一つ前の周期で、出力ビットを反転するスキャンフリップフロップを具備することを特徴とするスキャンテスト回路。

IPC (3件)：

G01R 31/28 ,  H01L 21/66 ,  H03K 19/00

FI (3件)：

G01R 31/28 G ,  H01L 21/66 ,  H03K 19/00 B

Fターム (23件)：

2G032AA04 ,  2G032AC10 ,  2G032AE10 ,  2G032AE12 ,  2G032AK14 ,  2G032AK16 ,  4M106AA02 ,  4M106AA04 ,  4M106AA08 ,  4M106AC07 ,  4M106AC08 ,  4M106AC09 ,  4M106BA14 ,  4M106BA20 ,  5J056AA00 ,  5J056BB21 ,  5J056BB60 ,  5J056CC00 ,  5J056CC14 ,  5J056EE07 ,  5J056FF07 ,  5J056FF08 ,  5J056KK00