特許

J-GLOBAL ID：200903063248757083

デザインサンプル解析方法および装置、デザイン評価方法および装置

発明者： 千葉 和也
出願人/特許権者： 富士ゼロックス株式会社
代理人 (1件)： 柳澤 正夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-252509
公開番号（公開出願番号）：特開2000-082151
出願日： 1998年09月07日
公開日（公表日）： 2000年03月21日
要約：

【要約】【課題】 任意の数の構成要素からなるサンプルについてもデザイン知識を獲得できるデザインサンプル解析方法および装置と、獲得したデザイン知識に基づいてデザイン評価観点の評価を行うデザイン評価方法および装置を提供する。【解決手段】 パラメータ化部21において、サンプル11中のデザインの構成要素を切り出し、各構成要素ごとにパラメータの値を決定する。そして、決定したパラメータの値を各サンプル11ごとにまとめ、サンプルプロファイル23を作成する。次にデザイン知識獲得部25において、サンプルプロファイル23とそのラベル24に基づいて、デザイン評価観点を満たすデザイン知識をデザイン知識保持部31に保持させる。その後、入力されたサンプル4からパラメータ化部32で生成したサンプルプロファイル33がデザイン知識とマッチするか否かを評価部34で評価して評価結果5を出力する。

請求項（抜粋）：

印象語で表されるデザイン評価観点でそれぞれ評価され、それぞれ任意の数のデザインの構成要素からなる多数のデザインサンプルを入力し、各デザインサンプルについて、該デザインサンプルに含まれるそれぞれの構成要素について該構成要素の属性を表すパラメータの値をそれぞれ決定し、各構成要素において決定したパラメータの値を集めてサンプルプロファイルを形成し、多数の前記デザインサンプルから得られる多数の前記サンプルプロファイルと各デザインサンプルごとの前記デザイン評価観点の評価に基づいて前記デザイン評価観点を満たすための条件であるデザイン知識を出力することを特徴とするデザインサンプル解析方法。

IPC (6件)：

G06T 11/60 ,  G06F 17/00 ,  G06F 17/21 ,  G06F 17/24 ,  G06T 7/00 ,  G06F 17/50

FI (6件)：

G06F 15/62 325 A ,  G06F 15/20 N ,  G06F 15/20 530 Z ,  G06F 15/20 534 Z ,  G06F 15/70 330 Z ,  G06F 15/60 612 Z

Fターム (29件)：

5B009NA03 ,  5B009NB11 ,  5B009NC01 ,  5B009QA01 ,  5B046AA09 ,  5B046BA00 ,  5B046FA09 ,  5B046JA01 ,  5B046KA10 ,  5B049AA02 ,  5B049AA06 ,  5B049BB23 ,  5B049CC11 ,  5B049EE02 ,  5B049GG09 ,  5B050BA16 ,  5B050EA03 ,  5B050EA06 ,  5B050EA07 ,  5L096BA17 ,  5L096BA18 ,  5L096EA35 ,  5L096FA18 ,  5L096FA42 ,  5L096FA44 ,  5L096FA45 ,  5L096FA62 ,  5L096FA64 ,  5L096FA69