特許

J-GLOBAL ID：200903063291810680

光学位置検出装置

発明者： 大泉 充弘
出願人/特許権者： 株式会社リコー
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-040607
公開番号（公開出願番号）：特開2000-244007
出願日： 1999年02月18日
公開日（公表日）： 2000年09月08日
要約：

【要約】【課題】 非点収差光学系の光軸と複数分割型のフォトダイオードの中心光軸とのずれによる誤検出動作を補正調整して、装置を常に高精度の光学位置の検出を行う状態に設定可能な光学位置検出装置を提供する。【解決手段】 4分割型フォトダイオード26Aの各フォトダイオードA〜Dに、最適の逆バイアス電圧Vra〜Vrdをそれぞれ印加することにより、実装ずれによる4分割型フォトダイオード26Aの中心光軸と、非点収差光学系の光軸とのずれや、光ディスク15のトラッキング制御ずれによる非点収差光学系のビームの光軸と4分割型フォトダイオード26Aの中心光軸とのずれの補正調整処理を行い、光ダイオード15の情報記録面11が対物レンズ12の焦平面に一致する位置で、実装ずれやトラッキング制御ずれを補正して、演算されるフォーカスエラー信号FEは常に0となり、高精度の光学位置の検出が行われ、フォーカス制御を精度よく行うことが可能になる。

請求項（抜粋）：

光ディスクの情報記録面が、非点収差光学系の対物レンズの焦平面にあると、前記光ディスクからのビームの断面が円形となる位置に、複数分割型のフォトダイオードが配置され、該フォトダイオードの分割された各フォトダイオード部分の出力信号の演算値に基づいてフォーカスエラー信号を検出することにより、前記情報記録面に対する光学位置の検出を行う光学位置検出装置であり、前記各フォトダイオード部分に、それぞれ独立に逆バイアス信号を印加する逆バイアス信号印可手段を有することを特徴とする光学位置検出装置。

IPC (5件)：

H01L 31/16 ,  G01B 11/00 ,  G01C 3/06 ,  H01L 27/14 ,  H01L 31/10

FI (5件)：

H01L 31/16 B ,  G01B 11/00 B ,  G01C 3/06 P ,  H01L 27/14 D ,  H01L 31/10 A

Fターム (41件)：

2F065AA06 ,  2F065BB03 ,  2F065BB16 ,  2F065CC03 ,  2F065DD02 ,  2F065EE00 ,  2F065JJ01 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ18 ,  2F065JJ22 ,  2F065LL04 ,  2F065LL08 ,  2F065NN20 ,  2F065QQ27 ,  2F065UU07 ,  2F112AB01 ,  2F112BA06 ,  2F112BA10 ,  2F112CA01 ,  2F112DA06 ,  2F112DA28 ,  2F112DA40 ,  4M118AA10 ,  4M118AB02 ,  4M118BA03 ,  4M118CA05 ,  4M118CA34 ,  5F049MA04 ,  5F049MB03 ,  5F049NA02 ,  5F049NA20 ,  5F049NB08 ,  5F049PA10 ,  5F049PA11 ,  5F049RA03 ,  5F049SE05 ,  5F049SS03 ,  5F049SZ03 ,  5F049SZ12 ,  5F049SZ13 ,  5F049UA11