特許

J-GLOBAL ID：200903063319644285

半導体に基づくX線検出装置

発明者： ベルジェ,ロワク ,  グラセ,フランシス ,  ミギュ,ティエリー
出願人/特許権者： コミツサリア タ レネルジー アトミーク ,  ソシエテ ソフラデイール
代理人 (1件)： 浅村 皓 (外3名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-509915
公開番号（公開出願番号）：特表平10-512398
出願日： 1996年08月23日
公開日（公表日）： 1998年11月24日
要約：

【要約】この発明は、その上に二つまたはそれ以上の電気接点が配置される少なくとも一つの高固有抵抗II-VI族半導体材料を含んでなり、電気接点のうち少なくとも一つはブロッキング接点のグループから選ばれたX線検出器を提供する。

請求項（抜粋）：

半導体に基づくX線検出装置であって、高い固有抵抗の半導体材料から作られ、少なくとも二つの電気接点がその上に配置され、少なくともそのうちの一つが、ブロッキング接点のファミリーから取られていることを特徴とするX線検出装置。