特許

J-GLOBAL ID：200903063339142502

濡れ性測定装置および方法

発明者： 井田 晃史 ,  宇山 喜一郎 ,  西出 明彦 ,  玉木 清英
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 則近 憲佑
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-077730
公開番号（公開出願番号）：特開平7-286974
出願日： 1994年04月18日
公開日（公表日）： 1995年10月31日
要約：

【要約】【目的】 指定領域内の分割領域毎に適切な2値化しきい値を設定して、適切な2値化処理を行い、濡れ性を適確に測定し得る濡れ性測定装置および方法を提供する。【構成】 X線発生装置1から発生するX線2を被検体3に照射し、該被検体3を透過したX線をX線イメージインテンシファイア5で検知し、これにより被検体3の透過像を画像処理装置6を介してモニタ7に表示する。この表示された被検体3の透過像において接着物質延在領域を指定し、この領域を複数のサブ領域に分割し、この複数のサブ領域の各々に対してそれぞれ独自の2値化しきい値を設定し、各サブ領域の画素を2値化し、この2値化された値の面積により接着物質延在領域の濡れ性を評価する。

請求項（抜粋）：

接着剤で接着された部分を有する被検体に放射線を照射し、該被検体を透過した放射線を空間分解能をもって検出して得られたデータを透過像として表示するとともに、該透過像から前記接着剤がどの程度確実に付着しているかを示す濡れ性を測定する濡れ性測定装置であって、前記透過像上で被検体内の接着物質延在領域を指定する指定手段と、該指定手段で指定された領域を複数のサブ領域に分割する分割手段と、該分割手段で分割された複数のサブ領域の各々に対してそれぞれ独自の2値化しきい値を設定し、該2値化しきい値により各サブ領域の画素を2値化する2値化手段と、該2値化手段で2値化された値の面積により前記接着物質延在領域の濡れ性を評価する評価手段とを有することを特徴とする濡れ性測定装置。