特許
J-GLOBAL ID:200903063367672630
複屈折測定装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
蓮見 勝
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-077718
公開番号(公開出願番号):特開平5-281136
出願日: 1992年03月31日
公開日(公表日): 1993年10月29日
要約:
【要約】【目的】複屈折測定装置の測定精度を向上させる。【構成】測定ヘッドの移動時、ランプ交換時等に、一つの測定ヘッドを構成する各受光素子間の受光照度ムラ等の影響を補償する補正手段と、測定中に定期的に自動的に同様の補正を行う制御手段を備える。
請求項(抜粋):
測定用ヘッドの移動作業後にまたは光源ランプ交換時等において測定ヘッドを構成する複数の受光素子の受光照度ムラ等の補正を行うための補正手段を設けたことを特徴とする複屈折測定装置。
IPC (2件):
引用特許:
審査官引用 (5件)
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特開平4-089553
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特開平2-157978
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特開平1-307645
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特開平3-110452
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特開昭63-218842
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