特許

J-GLOBAL ID：200903063367675010

負イオンシステム

発明者： 岡澤 宏樹 ,  谷村 泰宏 ,  宇野 淳一 ,  平山 大秀 ,  山下 浩司 ,  松岡 文雄 ,  杉本 猛
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社 ,  三菱電機エンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 宮田 金雄 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-159471
公開番号（公開出願番号）：特開平11-347111
出願日： 1998年06月08日
公開日（公表日）： 1999年12月21日
要約：

【要約】【課題】 所定空間内に配置された対象物へ、気流速を抑え、確実に負イオンを当てることができる負イオンシステムを得る。【解決手段】 温度調整室1の空間内に負イオンを発生させる負イオン発生器2配置し、温度調整室1の空間内のうち負イオン発生器2が配置された空間とは別のところに負イオンを電位差により導く吸着部材3を配置し、温度調整室1の空間内の生鮮食料品を配置された領域に所定濃度の負イオンを当てる。

請求項（抜粋）：

所定空間内に配置され、負イオンを発生させる負イオン発生器と、前記所定空間内のうち前記負イオン発生器が配置された空間とは別のところに配置され、負イオンを電位差により導く負イオンガイド手段と、を備え、前記所定空間内を配置された対象物に応じて所定濃度の負イオンを当てることを特徴とする負イオンシステム。

IPC (2件)：

A61L 9/22 ,  F25D 23/00 302

FI (2件)：

A61L 9/22 ,  F25D 23/00 302 M