特許
J-GLOBAL ID：200903063393135830
レーザーイオン化質量分析装置及び質量分析方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
田中 政浩
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-230866
公開番号（公開出願番号）：特開平10-074479
出願日： 1996年08月30日
公開日（公表日）： 1998年03月17日
要約：
【要約】【課題】 超音速分子ジェットによる試料導入のレーザー多光子イオン化質量分析技術において、高感度検出のための測定装置、および方法を提供する。【解決手段】 上記課題は、分子ジェットを形成するパルスバルブを備えた試料導入部と、パルスレーザー光発振器と、該発振器から発せられたレーザー光が通過しうる窓を有する真空イオン化室または相当する部位と、該レーザー光によってイオン化された分子の質量を分析する質量分析計を有し、前記パルスレーザー発振器が尖頭出力1MW以上の超短パルスレーザー光を発振しうるものであることを特徴とするレーザーイオン化質量分析装置によって解決される。
請求項（抜粋）：
分子ジェットを形成するパルスバルブを備えた試料導入部と、パルスレーザー光発振器と、該発振器から発せられたレーザー光が通過しうる窓を有する真空イオン化室または相当する部位と、該レーザー光によってイオン化された分子の質量を分析する質量分析計を有し、前記パルスレーザー発振器が尖頭出力1MW以上の超短パルスレーザー光を発振しうるものであることを特徴とするレーザーイオン化質量分析装置
IPC (2件)：
FI (2件)：
引用特許：
引用文献：
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