特許
J-GLOBAL ID:200903063426568265

スキャン・チェーン中に可溶性リンクを用いる集積回路メモリ

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 大貫 進介 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-113445
公開番号(公開出願番号):特開平10-055698
出願日: 1997年04月15日
公開日(公表日): 1998年02月24日
要約:
【要約】【課題】 スキャン可能なフリップ・フロップ(25)に結合されたプログラム可能なヒューズ(20)を含む集積回路メモリ(140)を提供する。【解決手段】 プログラム可能なヒューズ(20)およびスキャン可能なフリップ・フロップ(25)はスキャン・チェーン内で実施され、たとえば修理(冗長性)情報,ウエハ・ロット番号およびウエハ番号,ウエハ上のダイの位置あるいはパッケージ・テスト中またはテスト後に有益な他の任意の情報といった集積回路メモリ(140)に関する特定の情報をプログラムするのに用いられる。
請求項(抜粋):
スキャン・テストを実施する集積回路メモリ(140)であって:前記集積回路メモリ(140)に関する所定の情報を記憶するためのヒューズ回路(21);および前記集積回路メモリ(140)がテスト・モードであるとき前記所定の情報を選択的に供給するための、前記ヒューズ回路(21)に結合されたラッチ回路(26)から構成されることを特徴とする集積回路メモリ(140)。
IPC (2件):
G11C 29/00 603 ,  G11C 11/413
FI (2件):
G11C 29/00 603 Q ,  G11C 11/34 341 C
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 特開平4-026999
審査官引用 (1件)
  • 特開平4-026999

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