特許

J-GLOBAL ID：200903063435804842

粒度分布測定装置

発明者： 島岡 治夫 ,  竹内 和
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 西田 新
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-158171
公開番号（公開出願番号）：特開平5-018882
出願日： 1991年06月28日
公開日（公表日）： 1993年01月26日
要約：

【要約】 (修正有)【目的】 特に注目すべきポイントを設定することなく、粒度分布の時間的変化を粒子径、粒子量の双方から一目で把握可能なデータを表示可能な粒度分布測定装置を提供する。【構成】 粒度分布測定結果を複数組記憶する記憶手段bと、この記憶手段bに記憶されているデータを、粒子径、粒子量および測定順序の3軸からなるグラフに表示するための計算を行う演算手段cと、その結果を上記3軸で構成された3次元グラフに表示する表示手段dを設ける。

請求項（抜粋）：

試料粉粒体の粒度分布を測定する装置において、粒度分布測定結果を複数組記憶する記憶手段と、この記憶手段に記憶されている複数組の粒度分布データを、粒子径、粒子量および測定順序の3軸により構成されるグラフに表示し得るよう計算する演算手段と、この演算結果を上記3軸からなる3次元グラフに表示する表示手段を備えたことを特徴とする粒度分布測定装置。