特許
J-GLOBAL ID：200903063448929326
半田付け部のリード抜け検査方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中川 國男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-053297
公開番号（公開出願番号）：特開平6-241742
出願日： 1993年02月19日
公開日（公表日）： 1994年09月02日
要約：
【要約】【目的】 ディスクリート部品のリードの半田付け部分のリード抜け検査工程で検査条件を加重することによって、リード抜けを見逃しなく正確に検出できるようにすることである。【構成】 基板の導電パッドにディスクリート部品のリードを半田付けにより固定する半田付け部の画像処理検査過程で、真上照明により半田付け部中央の輝点の有無を判定する工程、半田付け部でリードのはみ出し部分の有無を判定する工程、および角度付の照明により半田付け部に形成されるリード輝線長さを判定する工程を含み、上記各工程で、輝点有り、はみ出し無し、輝線長さ基準値より小さいの判定結果からリード抜け状態を確定する。
請求項（抜粋）：
基板の導電パッドにディスクリート部品のリードを半田付けにより固定する半田付け部の画像処理検査過程で、真上照明により半田付け部中央の輝点の有無を判定する工程、半田付け部でリードのはみ出し部分の有無を判定する工程、および角度付の照明により半田付け部に形成されるリード輝線長さを判定する工程を含み、上記各工程で、輝点有り、はみ出し無し、輝線長さ基準値より小さいの判定結果からリード抜け状態を確定することを特徴とする半田付け部のリード抜け検査方法。
IPC (6件)：
G01B 11/24
, B23K 1/00
, G01N 21/88
, G06F 15/62 405
, G06F 15/70 455
, H05K 3/34
