特許

J-GLOBAL ID：200903063499577521

画像測距装置

発明者： 渡辺 正人 ,  辻 孝之 ,  服部 弘 ,  嶋村 考造 ,  長岡 伸治
出願人/特許権者： 本田技研工業株式会社
代理人 (1件)： 志賀 正武 (外5名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-215890
公開番号（公開出願番号）：特開2003-028635
出願日： 2001年07月16日
公開日（公表日）： 2003年01月29日
要約：

【要約】【課題】 車両に備えた撮像手段により撮影された赤外線画像から、対象物の距離を、少ない演算量でかつ高精度に求めることができる測距装置を提供する。【解決手段】 撮像手段により撮影された2つの赤外線画像を用いて、撮像手段から対象物までの距離を求める画像測距装置に、多値化処理された一方の画像を所定サイズのパターン領域に分割する画像分割手段16と、画像分割手段16により分割されたパターン領域毎に、2つの赤外線画像の相関演算を行い、パターン領域毎の視差を求め、これを該パターン領域の距離値に変換する視差算出手段17と距離画像生成手段18、更に距離画像生成手段18により求められた距離値に基づいて、パターン領域を距離値が類似しているパターン領域毎に分類して1つのグループとして認識し、認識されたグループの距離値を求め、対象物までの距離値とする距離値クラスタリング手段20とを設けた。

請求項（抜粋）：

撮像手段により撮影された2つの赤外線画像を用いて、撮像手段から対象物までの距離を求める画像測距装置であって、多値化処理された画像を所定サイズのパターン領域に分割し、この情報を前記赤外線画像を分割するためのパターン領域情報として出力する画像分割手段と、前記パターン領域情報に基づいて分割された、一方の赤外線画像のパターン領域と他方の赤外線画像のパターン領域との相関演算を行い、前記パターン領域毎の視差を求め、これを該パターン領域の距離値に変換するパターン距離算出手段と、前記パターン距離算出手段により求められた距離値に基づいて、前記パターン領域を距離値が類似しているパターン領域毎に分類して1つのグループとして認識し、認識されたグループの距離値を求めて対象物までの距離とするクラスタリング手段と、を設けたことを特徴とする画像測距装置。

IPC (6件)：

G01C 3/06 ,  G06T 1/00 315 ,  G06T 1/00 330 ,  G06T 7/00 ,  G06T 7/00 300 ,  G06T 7/60 180

FI (6件)：

G01C 3/06 V ,  G06T 1/00 315 ,  G06T 1/00 330 Z ,  G06T 7/00 C ,  G06T 7/00 300 E ,  G06T 7/60 180 B

Fターム (33件)：

2F112AC06 ,  2F112BA05 ,  2F112BA06 ,  2F112CA05 ,  2F112DA21 ,  2F112FA38 ,  2F112FA50 ,  5B057AA16 ,  5B057BA29 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB13 ,  5B057CB16 ,  5B057CC02 ,  5B057CE08 ,  5B057CH01 ,  5B057DA07 ,  5B057DA16 ,  5B057DB03 ,  5B057DB09 ,  5B057DC34 ,  5L096AA06 ,  5L096AA09 ,  5L096BA04 ,  5L096CA05 ,  5L096DA02 ,  5L096FA34 ,  5L096FA66 ,  5L096GA19 ,  5L096LA05 ,  5L096MA07