特許
J-GLOBAL ID:200903063559502089

電子ユニットの測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-240142
公開番号(公開出願番号):特開2004-077354
出願日: 2002年08月21日
公開日(公表日): 2004年03月11日
要約:
【課題】寿命が長く、小型で、且つ、導電線路を短くして、導通抵抗、及びインダクタンスを小さくすると共に、特に、高周波において正確な測定が可能なものを提供する。【解決手段】本発明の電子ユニットの測定装置は、電子ユニット6の配線パターン7に接触可能で、導電線からなる複数の接触部材4と、この接触部材4を保持するための保持部材1と、導電パターン2が設けられたプリント基板3とを備え、接触部材4は、自由端部を有し、上下方向に延びる一対の腕部4a、4bと、この一対の腕部4a、4b間を繋ぐ曲げ部4cとを有し、接触部材4の腕部4a、4bの端部がそれぞれ導電パターン2,配線パターン7に圧接されるようにしたため、接触部材4の並列方向の間隔を小さくできて、小型化された電子ユニットの測定装置に好適である。【選択図】 図2
請求項(抜粋):
電子ユニットの配線パターンに接触可能で、導電線からなる複数の接触部材と、この接触部材を保持するための保持部材と、導電パターンが設けられたプリント基板とを備え、前記接触部材は、自由端部を有し、上下方向に延びる一対の腕部と、この一対の腕部間を繋ぐ曲げ部とを有し、前記接触部材の一方の前記腕部の端部が前記導電パターンに圧接されると共に、前記接触部材の他方の前記腕部の端部が前記配線パターンに圧接されるようにしたことを特徴とする電子ユニットの測定装置。
IPC (4件):
G01R31/26 ,  G01R1/06 ,  G01R1/067 ,  G01R31/28
FI (4件):
G01R31/26 J ,  G01R1/06 E ,  G01R1/067 C ,  G01R31/28 K
Fターム (16件):
2G003AA00 ,  2G003AG03 ,  2G003AG07 ,  2G003AG08 ,  2G003AG12 ,  2G003AH00 ,  2G003AH09 ,  2G011AA15 ,  2G011AB01 ,  2G011AB07 ,  2G011AC32 ,  2G011AF07 ,  2G132AA00 ,  2G132AF02 ,  2G132AF07 ,  2G132AL03

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