特許

J-GLOBAL ID：200903063578040150

MS/MS型質量分析装置

発明者： 廣岡 恵 ,  田中 靖文 ,  山本 善丈 ,  宮川 治彦 ,  永田 淳
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-351143
公開番号（公開出願番号）：特開平7-201304
出願日： 1993年12月29日
公開日（公表日）： 1995年08月04日
要約：

【要約】【目的】 第3段四重極Q3を通過してきた目的娘イオン16がイオンレンズ13により反発されることを防止し、高感度の分析を行なえるようにする。【構成】 イオンレンズ13のバイアス電圧VLを、目的親イオン15の質量Mpと目的娘イオン16の質量Md1との比に応じて変化させる。

請求項（抜粋）：

イオン源から送り込まれる粒子中、所定の質量を持つイオンのみを通過させる第1段四重極と、第1段四重極を通過したイオンである親イオンを開裂させる第2段四重極と、第2段四重極で生成されたイオン中、所定の質量を持つ娘イオンのみを通過させる第3段四重極と、第3段四重極を通過したイオンをイオン検出器に向けて集束させるイオンレンズとを備えたMS/MS型質量分析装置において、イオンレンズのバイアス電圧を、上記所定の親イオンの質量と上記所定の娘イオンの質量との比に応じて変化させることを特徴とするMS/MS型質量分析装置。

IPC (3件)：

H01J 49/42 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/06

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭62-264546
  
• 特公昭48-003596
  
• 特開昭58-023157