特許
J-GLOBAL ID：200903063582059320
比色分析装置のランプ切れ検出装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
森本 義弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-149800
公開番号（公開出願番号）：特開平10-339697
出願日： 1997年06月09日
公開日（公表日）： 1998年12月22日
要約：
【要約】【課題】 比色分析装置において、濁水の混入などによる受光素子への検出光量の低下と、ランプ切れによる受光素子への検出光量の低下とを識別し、ランプ切れの状態を確実に判定できるようにする。【解決手段】 透過窓を有する試料測定セル1に光源2からの光3を透過させ、その透過光を受光素子4で検出することによって得られる試料の吸光度にもとづいて、その試料の濁度や色度を測定するようにした比色分析装置である。光源2のランプの光量をモニタするモニタ用受光素子12と、このモニタ用受光素子12からの信号にもとづいて光源2のランプ切れを判定する判定回路13とを有する。
請求項（抜粋）：
透過窓を有する試料測定セルに光源からの光を透過させ、その透過光を受光素子で検出することによって得られる試料の吸光度にもとづいて、その試料の濁度や色度を測定するようにした比色分析装置において、前記光源のランプの光量をモニタするモニタ用受光素子と、このモニタ用受光素子からの信号にもとづいて前記光源のランプ切れを判定する判定回路とを有することを特徴とする比色分析装置のランプ切れ検出装置。
IPC (3件)：
G01N 21/01
, G01J 3/10
, G01N 21/59
G01N 21/01 D
, G01J 3/10
, G01N 21/59 Z
