特許

J-GLOBAL ID：200903063583597309

結晶配向性の評価方法および磁石の製造方法

発明者： 加藤 英治 ,  石坂 力 ,  福野 亮
出願人/特許権者： ティーディーケイ株式会社
代理人 (1件)： 石井 陽一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-280160
公開番号（公開出願番号）：特開2001-107105
出願日： 1999年09月30日
公開日（公表日）： 2001年04月17日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】 塊状体(圧粉体、焼結体、樹脂結合体、鋳造体等)について、結晶配向性の評価を容易かつ迅速に行える方法を提供する。また、磁界中成形直後において結晶配向性の評価を迅速に行うことにより、不良品の発生を抑制できる磁石の製造方法を提供する。【解決手段】 塊状の被測定物1に対し特定の方向またはその付近からX線を入射させ、その回折強度に基づいて前記被測定物の結晶配向性を評価する結晶配向性の評価方法。

請求項（抜粋）：

塊状の被測定物に対し特定の方向またはその付近からX線を入射させ、その回折強度に基づいて前記被測定物の結晶配向性を評価する結晶配向性の評価方法。

IPC (4件)：

B22F 3/02 ,  B22F 3/00 ,  G01N 23/20 ,  H01F 41/02

FI (4件)：

B22F 3/02 R ,  B22F 3/00 D ,  G01N 23/20 ,  H01F 41/02 G

Fターム (18件)：

2G001AA01 ,  2G001BA18 ,  2G001CA01 ,  2G001GA01 ,  2G001GA13 ,  2G001JA08 ,  2G001KA08 ,  2G001LA02 ,  2G001MA04 ,  2G001PA12 ,  2G001RA01 ,  2G001SA07 ,  4K018CA04 ,  4K018KA42 ,  5E062CD04 ,  5E062CE04 ,  5E062CF01 ,  5E062CG01