特許

J-GLOBAL ID：200903063590528860

大型物体の表面の三次元測定方法及び装置

発明者： ラウール アンリ ジャン-リューク マイヤール ,  ミシェル ルキーム ,  パスカル ベラミー ,  ガブリエル ドゥ スメ
出願人/特許権者： ベルタン エ コンパニー ,  ソラック
代理人 (1件)： 山本 恵一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-144225
公開番号（公開出願番号）：特開平8-101032
出願日： 1995年05月19日
公開日（公表日）： 1996年04月16日
要約：

【要約】【目的】 大型物体の表面の三次元測定を早く性格に行うことを目的とする。【構成】 三次元測定の方法と装置とが、車両などの大型物体(15)の高速高精度測定に利用される。本方法は、形状測定センサ(3)の測定位置を近似的に決定する段階と、物体上の点であってセンサに関わる座標系内で座標が表現される点によって表わされる表面部分の形状を測定するため、測定位置に次々とセンサ(3)を位置決めする段階と、所定の固定座標系内において、近似的に決定された位置におけるセンサの位置を正確に標定する段階と、センサの標定位置に応じて、センサに関わる座標系内で表現される表面部分の座標を固定座標系内で表現される座標値に変換する段階とを含む。

請求項（抜粋）：

-形状測定手段(3)の測定位置(PM1 〜PMR )を近似的に決定する段階(E20)と、-形状測定手段に関わる座標系内(0S、XS、YS、ZS)で座標が表現される物体上の点である被測定物体(15)の表面部分の形状を測定する(E33、E34)ため、決められた測定位置に次々と形状測定手段(3)を位置決めする段階と、-所定の固定座標系(0、X、Y、Z)内において、基準点合わせ手段(35)により形状測定手段(3)の各前記位置の正確な位置を求める段階(E35)と-形状測定手段に関わる前記座標系(0、X、Y、Z)内で表現される表面部分の座標を、固定座標系内で決められる形状測定手段の位置に応じて固定座標系内で表現される前記位置の座標に変換する段階(E36)とを含むことを特徴とする、形状測定手段(3)による物体(15)の表面の三次元測定方法。

IPC (2件)：

G01B 21/20 101 ,  G01B 11/24