特許

J-GLOBAL ID：200903063619020585

光沢度測定装置

発明者： 加地 徹 ,  前田 光俊
出願人/特許権者： 株式会社豊田中央研究所
代理人 (1件)： 中島 淳 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-132588
公開番号（公開出願番号）：特開平5-322764
出願日： 1992年05月25日
公開日（公表日）： 1993年12月07日
要約：

【要約】【目的】 人間の目視感と一致する光沢度を得ることができる光沢度測定装置を提供すること。【構成】 コリメート光源22により試料18に照射されたレーザービームの反射光量を光検出器38が検出しロックインアンプ70へ出力する。スポット光源24による皺の溝より小さな径の光スポットの反射光は、光検出器50が検出してロックインアンプ70へ出力する。ロックインアンプ70は、光検出器38、50の各出力であるを周波数f1 、f2 の信号を所定時間毎に増幅し、マイクロコンピュータ72へ出力する。次に光検出器38の出力の平均値を求めることにより表面粗さを求め、光検出器50の出力の標準偏差を出力の平均値で除算することによりシボ深さを求める。次に表面粗さとシボ深さのデータを、官能値と相関のある基準マップを参照することによって、光沢度を求める。従って、求めた光沢度は、人間の官能評価に一致する値として得られる。

請求項（抜粋）：

測定対象物表面に形成された凹凸模様のシボの凹部の大きさより小さい径の光ビームを射出する第1の光源と、該第1の光源から射出された光ビームの反射光量を検出する第1の検出手段と、を備え、前記測定対象物と相対的に移動可能にされた第1の測定手段と、前記第1の検出手段によって検出された反射光量のばらつきを求める演算手段と、前記凹凸模様のシボの凹部の大きさより大きな径の光ビームを射出する第2の光源と、該第2の光源から射出される光ビームの反射光量を検出する第2の検出手段と、を備えた第2の測定手段と、前記演算手段の演算結果及び第2の検出手段によって検出された検出値に基づいて光沢度を求める光沢度演算手段と、を備えたことを特徴とする光沢度測定装置。

IPC (2件)：

G01N 21/57 ,  G01B 11/30

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭50-042871
  
• 特開平2-031138
  
• 特開平2-156140