特許

J-GLOBAL ID：200903063652231265

基準パターン設定登録方法とパターンマッチング認識方法

発明者： 佐野 公昭 ,  田邉 敦
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 森本 義弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-264701
公開番号（公開出願番号）：特開2001-092959
出願日： 1999年09月20日
公開日（公表日）： 2001年04月06日
要約：

【要約】【課題】 間引き処理を行った場合でも基準パターンの位置を正確に設定登録が可能な基準パターン設定登録方法と認識精度を向上させるパターンマッチング認識方法を提供することを目的とする。【解決手段】 本発明の基準パターン設定登録方法は、被対象物を撮像した被検出パターン1の画像の少なくとも一部の領域に基準パターン2を表示し、この基準パターン2の画像データを間引き処理した粗認識パターン3と、粗認識パターン3の少なくとも一部の領域の画像データをこの粗認識パターン3より高精度に処理した精認識パターン4とを共に表示し、表示されている前記粗,精認識パターン3,4に基づいて、被検出パターン1の画像のうちで特徴のある部分に基準パターン2を設定登録するものである。

請求項（抜粋）：

被対象物を撮像した被検出パターンの画像の少なくとも一部の領域に基準パターンを表示し、前記基準パターンの画像データを間引き処理した粗認識パターンと、前記粗認識パターンの少なくとも一部の領域の画像データをこの粗認識パターンより高精度に処理した精認識パターンとを共に表示し、表示されている前記粗,精認識パターンに基づいて、前記被検出パターンの画像のうちで特徴のある部分に前記基準パターンを設定登録する基準パターン設定登録方法。

Fターム (11件)：

5L096BA03 ,  5L096DA01 ,  5L096DA04 ,  5L096EA03 ,  5L096FA34 ,  5L096FA69 ,  5L096GA17 ,  5L096JA14 ,  5L096KA15 ,  9A001HH21 ,  9A001JZ49