特許
J-GLOBAL ID：200903063658325938
電子回路
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
吉田 精孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-013740
公開番号（公開出願番号）：特開平8-205516
出願日： 1995年01月31日
公開日（公表日）： 1996年08月09日
要約：
【要約】【目的】 回路の劣化を生じること無く過電圧保護回路のみを試験できる電子回路を提供する。【構成】 過電圧保護回路13におけるサイリスタ131 のアノードをDC/DCコンバータ回路本体11の入力端子11aに接続し、カソードを接地端子10cに接続する。また、直列接続されたツェナーダイオード132,133 のカソードを過電圧保護検査回路15のダイオード151,152 の双方のカソードに接続し、ツェナーダイオード133 のアノードを直列接続された抵抗器134,135 を介して接地し、抵抗器134,135 の接続点をサイリスタ131 のゲートに接続すると共にコンデンサ136 を介して接地する。さらに、過電圧保護検査回路15のダイオード151のアノードをDC/DCコンバータ回路本体11の入力端子11aに接続し、ダイオード152 のアノードを試験電圧入力端子153 に接続する。
請求項（抜粋）：
過電圧保護対象回路における過電圧検出対象電圧印加端子に入力される電圧が規定値以上になったときに前記過電圧保護対象回路を保護する過電圧保護回路を備えた電子回路において、前記過電圧保護回路のみに前記規定値以上の電圧を印加できる過電圧保護検査回路を設けたことを特徴とする電子回路。
IPC (4件)：
H02M 1/00
, G05F 1/10 304
, H02H 3/20
, H02M 3/00
