特許
J-GLOBAL ID：200903063672601573
電子部品計測装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高橋 光男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-004155
公開番号（公開出願番号）：特開平6-324109
出願日： 1994年01月19日
公開日（公表日）： 1994年11月25日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】DIP部品の測定時に発生するリードの金属メッキの付着による相隣るリードの短絡を防止すること。【構成】CCD10を下方で支持する支持台11Aと、この支持台11Aの相対する側面上方にプレート11Paを固定し、それらのプレートの、支持台11Aのリード10Rが接触する表面の、相隣るリード接触部の間に縦溝11cを設け、またこの支持台の相対する側面下方に前記計測回路と接続された接触端子13を設け、前記支持台の両側で、上方に各リード10Rに接触する第1プローブピン3と、下方に前記接触端子に接触する第2プローブピン4とを設けた移動台2を、前記支持台に対してスライド自在に設置されている。【効果】リードが接触するプレートの表面にたとえリードの金属メッキが付着しても、縦溝にはそれが付着しないので、隣接するリードの短絡を防止することができる。
請求項（抜粋）：
計測用回路を組み込んだ基板上に、電子部品載置面とこれを挟んで相対する側面とを有し、これらの側面が絶縁体で形成された支持台を設け、この支持台に、両側縁に複数のリードを有する電子部品を、その両側縁の複数のリードが前記支持台を跨ぎ、その支持台の両側面の絶縁体の表面に接触するように装着し、この装着状態の電子部品の電気的特性を測定する電子部品計測装置において、前記絶縁体の表面の、前記電子部品の相隣るリード接触部の間に溝を設けたことを特徴とする電子部品計測装置。
IPC (3件)：
G01R 31/26
, G01R 1/073
, H01L 23/50
