特許
J-GLOBAL ID:200903063740145131

産業用CT装置とそのスキャノグラム撮影方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 秋本 正実
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-137185
公開番号(公開出願番号):特開平5-332952
出願日: 1992年05月28日
公開日(公表日): 1993年12月17日
要約:
【要約】【目的】 産業用のCT装置について、断層撮影位置を決定するために必要な放射線の高画質の透過画像(スキャノグラム像)を短時間で得る。【構成】 ファンビ-ムで放射線を照射する放射線発生装置1と、扇形に離間して(離間角度をθ)配置された複数個の放射線検出器6a,6b,6c(各検出器に入射する放射線の広がり角度をφ)と、被検体2を載置するタ-ンテ-ブル3(放射線発生装置1との距離をm)の他に、φ×mピッチで被検体2を検出器6と発生装置1に対して相対的に並進走査させる機構4と、この並進と同期してターンテーブル3を角度φずつ回転走査させるコントロ-ラ7と、θ/φ回の走査で得られた画像を処理してスキャノグラムを作成する計算機9とを設ける。これにより、検出器間の画像も高精度に得ることが可能となる。
請求項(抜粋):
放射線をファンビ-ムで放射する放射線源と、扇形に離間して複数個配置された放射線検出器と、放射線源及び検出器と被検体との間で相対的な走査を行う走査手段と、前記検出器から収集した放射線透過データから被検体の画像を生成する計算機とを備える産業用CT装置において、ファンビームで各検出器に入力する放射線の広がり角度をφ、放射線源と被検体との距離をmとしたとき、前記走査手段は、被検体をφ×mピッチで並進走査すると共にこれに同期して角度φづつ回転走査する制御手段を備えることを特徴とする産業用CT装置。

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